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山崎 大
no journal, ,
中性子反射率法は、物質界面や薄膜の深さ方向の密度分布の観測に有力な手段である。同位体(重水素ラベル法)や磁気を識別できる中性子の特徴を利用して、ソフトマターの界面・薄膜構造から磁性薄膜の磁気構造まで様々な物質・材料界面の構造観察に幅広く適用できる。本発表では、反射率法の原理から応用事例まで解説し、加えてJ-PARCで稼働中の偏極中性子反射率計「写楽」(BL17)の現状について紹介する。
線分析藤 暢輔
no journal, ,
中性子を試料に照射すると、試料に含まれている元素固有の線(即発線)が発生する。それをゲルマニウム検出器で測定することにより、試料に含まれている元素を一度に解析することができる。この原理に基づく元素分析法を即発線分析(PGA)と呼び、様々な分野の試料に用いられている。本発表ではPGAの基礎として、その原理から解析の方法までを解説するとともに、その分析事例を紹介する。また、最新の即発線分析装置であるJRR-3のMPGA装置、J-PARCのANNRI装置の概要について紹介し、それらの装置を用いることで可能となる多重即発線分析及び飛行時間法を適用した多重即発線分析の原理と特徴などについて述べる。